大规模集成电路 (LSI)测试技术包括测试生成技术、响应鉴别技术、测试仪技术和易测设计技术等。LSI 电路的测试方法，首先是针对大规模集成存储器和微处理器这类数字电路的。数字集成电路功能测试的一般过程是：将一系列逻辑信号（由“1”、“0”组合的测试码）加到被测电路的输入端，同时将输出响应信号与预期设置的标准信号进行比较。
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大规模集成电路测试技术
jacky
2024-09-13 23:08
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