原子力显微镜（AFM）,是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。首台原子力显微镜在1985年研发成功，其模式可分为接触模式和轻敲模式等多种模式。AFM探针由于应用范围仅限于原子力显微镜，属于高科技仪器的耗材，应用领域不广，全世界的使用量也不多。主要的生产厂家分布在德国，瑞士，保加利亚，美国等。由于的探针寿命短，分辨率不高也不稳定且一致性差，各国都在开发新型探针。
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原子力显微镜探针
jacky
2024-10-21 00:32
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